X射线荧光镀层测厚仪

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产品介绍


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产品说明

X射线荧光测试仪,可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析

 

XULM镀层厚度测量仪的特点

用途广泛的镀层厚度测量仪,包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。

通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量.

配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点。

比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率。

从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。

底部C型开槽的大容量测量舱 

 

XULM镀层厚度测量仪典型应用领域

测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层

电子行业中接插件和触点上的镀层

装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS

电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe

珠宝和钟表工业。

测量电镀液中金属成分含量,例如金层测厚、银层测厚。


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